日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)

產(chǎn)品名稱: 日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)

產(chǎn)品型號(hào): LE-200J

產(chǎn)品特點(diǎn): 日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)
內(nèi)置打印機(jī)的電磁膜測厚儀的鼎級(jí)型號(hào)
測量范圍0-1500μm
小于15μm的測量精度：±0.3μm，15μm或更高：±2％
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)1500點(diǎn)，統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì) 的詳細(xì)介紹

日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)

內(nèi)置打印機(jī)的電磁膜測厚儀的鼎級(jí)型號(hào)
測量范圍0-1500μm
小于15μm的測量精度：±0.3μm，15μm或更高：±2％
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)1500點(diǎn)，統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

主要規(guī)格

測量方式	電磁感應(yīng)式
測量目標(biāo)	磁性金屬上的非磁性涂層
測量范圍	0-1500μm或60.00密耳
測量精度	小于15μm：±0.3μm，15μm或以上：±2％
解析度	小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1.0μm
符合標(biāo)準(zhǔn)	JIS K5600-1-7，JIS H8501，JIS H0401 / ISO 2808，ISO 2064，ISO 1460，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499，ASTM D 7091-5，ASTM E 376
統(tǒng)計(jì)功能	測量次數(shù)，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，大值，小值，程序段號(hào)
探測	單點(diǎn)接觸恒壓型（LEP-J）
顯示方式	數(shù)字（LCD，小顯示位數(shù)0.1μm）
外部輸出	RS-232C接口（傳輸速度2400bps）
電源供應(yīng)	AC100V（50 / 60Hz）或電池1.5V（AA堿性）主機(jī)x 6，打印機(jī)x 4
尺寸/質(zhì)量	120（W）x 250（D）x 55（H）毫米，1.0公斤
配件	標(biāo)準(zhǔn)板，鐵座，標(biāo)準(zhǔn)板盒，電池1.5V（AA堿性），AC適配器，探針適配器，打印機(jī)紙，手提箱
選項(xiàng)	L型探頭（LEP-21L），RS-232C連接電纜，數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger KLD-01”，“ McWAVE Lite”，“ McWAVE Standard”，“ McWAVE Professional”，“ MultiProp”